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【無料】 組込みシステム開発者向け 「必ず役立つ! 動的テスト活用方法セミナー ~マイクロコントローラ&テスト工程の効率化~」

RL78/RXシリーズ/SHシリーズ採用のお客様必見!

組込みソフトウェアのテスト工程で発生する「メモリリーク」や「再現性の低い不具合」、「膨れ上がったテスト時間・テスト人員」にお困りではありませんか?
組み込み開発では、プラットフォームの活用やオープンソースの流用開発が進み、プログラムの大規模化とブラックボックス化が進んでいます。
プログラムが複雑化し増加するテスト工数を最新の動的テストツールを活用する事で効率的に改善する方法をご紹介します。


こんな課題をお持ちの方におススメ!!

  • 長時間稼働時のメモリリーク解析に困っている
  • 休日のランニングテストで発生する不具合に悩まされる
  • ソフトウェアとハードウェアの問題の切り分けができない
  • 製品の性能・パフォーマンスがなかなか上がらない
  • 基板面積が小さくて接続I/Fを設けられない


本セミナーでは、このようなソフトウェア開発やテスト・評価時の課題に対してどうアプローチするかについて、

  • ソフトウェアの可視化
  • メモリリーク・不具合解析
  • テスト工程の効率化

をテーマに、動的テストツールの活用事例/導入事例を交えながら解説します。
本セミナーは無料セミナーとなっておりますので、お気軽にご参加ください。



開催概要

【東京開催】
  • 日時 : 2017年 1月20日(金) 14:00~17:00(13:30より受付) (終了時間は前後する場合があります)
  • 会場 : 東京都新宿区西新宿1-23-7 新宿ファーストウエスト4階 横河レンタ・リース株式会社様 大会議室【地図】
  • 費用 : 無料
  • 定員 : 14名
  • 締切 : 2017年 1月19日(木) (※定員になり次第締切らせていただきます)

【大阪開催】
  • 日時 : 2017年 1月27日(金) 14:00~17:00(13:30より受付) (終了時間は前後する場合があります)
  • 会場 : 大阪府吹田市江坂町1-23-43 ファサード江坂ビル2F【地図】
  • 費用 : 無料
  • 定員 : 15名
  • 締切 : 2017年 1月24日(火) (※定員になり次第締切らせていただきます)

アジェンダ

  • セミナー開催のご挨拶
  • 組込みテストを取り巻く現状
  • 動的テスト・動的テストツール
  • 導入効果のご紹介
  • 導入事例のご紹介
  • 動的テストツールの動作紹介
  • 質疑応答・ご相談

申し込み方法

次の情報を明記の上、事務局までE-mailでお申し込み下さい

  • 宛先 : info-trqer@dts-insight.co.jp
  • 表題 : 「動的テスト活用方法セミナー(1/20 東京)応募」、または、「動的テスト活用方法セミナー(1/26 名古屋)応募」、または、「動的テスト活用方法セミナー(1/27 大阪)応募」
  • 本文 :
    • 会社名
    • 部署名
    • 住所
    • 氏名
    • メールアドレス
    • 電話番号


その他

  • セミナーの詳細やご質問は、info-trqer@dts-insight.co.jp までE-mailでお問い合わせください
  • 最少催行人数に満たない場合、日程を変更させていただく場合があります
  • 定員になり次第締切らせていただきます
  • 同業他社等の方のご参加は、お断りさせていただく場合があります

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