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【無料】 組込みシステム開発者向け 「必ず役立つ! 動的テスト活用方法セミナー ~メモリリーク解析×動的テスト活用術~」

メモリリーク解析は原因の特定が難しく、製品で障害が発生した状況を見極め、現象の切り分けを行い、原因を特定していく必要があります。
現在、プラットフォームの活用やオープンソースの流用開発が進み、システムが大規模化することでテスト工数が増加傾向にあります。
動的テストツールを活用することで効率的にメモリリークを始めとした様々な不具合を解析する方法をご紹介します。


こんな課題をお持ちの方におススメ!!

  • メモリリーク解析に困っている
  • 製品の性能・パフォーマンスを向上させたい
  • 実環境の不具合を動的テストツールで簡単に解決したい
  • 動的テストツールを導入したが運用できていない


本セミナーでは、このようなソフトウェア開発やテスト・評価時の課題に対してどうアプローチするかについて、

  • ソフトウェアの可視化
  • メモリリーク・不具合解析
  • パフォーマンス改善

をテーマに、動的テストツールの活用事例/導入事例を交えながら解説します。
本セミナーは無料セミナーとなっておりますので、お気軽にご参加ください。



開催概要

  • 日時 : 2016年12月 9日(金) 14:00~17:00(13:30より受付) (終了時間は前後する場合があります)
  • 会場 : 横河ディジタルコンピュータ株式会社 本社6F会議室 【地図】
  • 費用 : 無料
  • 定員 : 14名
  • 締切 : 2016年12月 6日(火) (※定員になり次第締切らせていただきます)

アジェンダ

  • セミナー開催のご挨拶
  • 組込みテストを取り巻く現状
  • 動的テスト・動的テストツール
  • 導入効果のご紹介
  • 導入事例のご紹介
  • 動的テストツールの動作紹介

申し込み方法

次の情報を明記の上、事務局までE-mailでお申し込み下さい

  • 宛先 : info-trqer@dts-insight.co.jp
  • 表題 : 「動的テスト活用方法セミナー(12/9 東京)応募」
  • 本文 :
    • 会社名
    • 部署名
    • 住所
    • 氏名
    • メールアドレス
    • 電話番号


その他

  • セミナーの詳細やご質問は、info-trqer@dts-insight.co.jp までE-mailでお問い合わせください
  • 最少催行人数に満たない場合、日程を変更させていただく場合があります
  • 定員になり次第締切らせていただきます
  • 同業他社等の方のご参加は、お断りさせていただく場合があります

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